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合并單元測試時(shí)需要對其額定延遲時(shí)間、角差以及比差等參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證,測試原理一般采用插值法和同步法。
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插值法
在4K采樣率的情況下,若將4000個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行離散傅氏變換,則可認(rèn)為基波頻率為1Hz,即A1為1Hz的正弦波形,A2為2Hz的正弦波形。
設(shè)置自身晶振控制采樣,此時(shí)有可能出現(xiàn)模擬量的采樣點(diǎn)無對應(yīng)的9-2點(diǎn),則需插值計(jì)算出9-2點(diǎn)的大小,如上圖中X點(diǎn)需要插值計(jì)算得到。
假定9-2為Am,模擬量為An:
相差計(jì)算:
時(shí)差計(jì)算:
比差計(jì)算:
諧波計(jì)算:
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同步法
已知同一采樣周期內(nèi)的模擬量及9-2的4000個(gè)點(diǎn)數(shù)據(jù)的情況下,通過傅氏變換可得兩者的基波函數(shù)和諧波函數(shù),在PPS觸發(fā)采樣時(shí)刻(即整秒時(shí)刻)時(shí)模擬量點(diǎn)的瞬時(shí)相位可通過數(shù)學(xué)計(jì)算得出。
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插值法與同步法的區(qū)別
插值法不需要外部時(shí)鐘對時(shí),依靠裝置本身的時(shí)間進(jìn)行采樣,而同步法需要測試儀與合并單元在同一時(shí)間系統(tǒng)內(nèi),因?yàn)橥椒ū容^的是整秒時(shí)刻的模擬量值與零號報(bào)文兩點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)。
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