進(jìn)行繼電保護(hù)裝置測試時，繼電保護(hù)測試儀的開入量與保護(hù)裝置動作與否、動作時間等息息相關(guān)。 現(xiàn)場試驗經(jīng)常會出現(xiàn)繼電保護(hù)跳了，但繼保測試儀未收到動作接點，檢查開入接線、保護(hù)動作均良好，單獨(dú)短接開入量進(jìn)行測試時也顯示正常。 針對此類問題，我們可以從開入量的原理入手進(jìn)行分析。
△ 圖1 開入量端子原理圖
圖1以開入A舉例說明，其他路開入量與開入A原理相同，并共用電源和COM端。 設(shè)圖中電壓源電壓為 U1，圖1中O1為光耦，光耦負(fù)邊通至測試裝置主板，當(dāng)光耦由通變斷或由斷變通，即光耦的通斷狀態(tài)有變化時，測試儀會記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時刻。
此電路的工作原理： O1最小導(dǎo)通電流為Imin，最大工作電流為Imax，回路電流為I，當(dāng)I≥Imin，時，O1導(dǎo)通，I＜Imin時，O1不通，當(dāng)I＞Imax時，電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點（圖 2）和帶電位接點（圖3）兩種情況進(jìn)行說明。
直接從保護(hù)裝置跳閘端子接線，未引入直流電源回路。 試驗時可能會出現(xiàn)兩種接法：
1、取1、2兩點接入測試裝置的開入量COM、A，由于無電位，兩點接線可以任意交換。 此時，若開關(guān)為分，電路開路， I=0，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)裝置給出跳閘信號時，圖中開關(guān)會由分到合，此時 
，（U1、R1、R2的值固定）光耦導(dǎo)通，測試裝置記錄動作。 此種接法進(jìn)行測試時通常不會出現(xiàn)異常。
2、當(dāng)從1、3兩點接入時，回路中多串入一個電阻R，此時 
，電流I的大小取決于R，R越大，I越小，當(dāng)R足夠大導(dǎo)致I＜Imin時，光耦不通，測試儀無法檢測到動作。 但實際上測試儀無故障、保護(hù)裝置無故障，而是接點選點不對。
當(dāng)保護(hù)裝置已經(jīng)接入系統(tǒng)，且系統(tǒng)直流系統(tǒng)帶電，此處假定+KM與-KM之間的電壓為U2，方向為上正下負(fù)。 此時，測試裝置的 COM必須接到正電位電上，若接反，不論怎么接線，光耦始終處于導(dǎo)通狀態(tài)，與保護(hù)是否跳閘無關(guān)，所以必須得排除。 正常接線下可能會出現(xiàn)多種接法，下面以 3種舉例進(jìn)行分析：
1、COM接點1，A接點2，此種情況開關(guān)未閉合時電流 
，其中U2為系統(tǒng)電壓，110V或220V，U1為測試裝置內(nèi)部電壓，一般為24V，此時電流I＜0，光耦不通。 保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時，開關(guān)兩端電壓為 0V，此時電流 
，光耦導(dǎo)通，測試裝置記錄動作。
2、COM接點1，A接點3，此種情況開關(guān)未閉合時電流 
，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時，開關(guān)兩端電壓為 0V，此時電流 
，光耦還是不通，測試裝置無法記錄動作，因此此種接法錯誤。
3、COM接點2，A接點3，此種情況開關(guān)未閉合時，電流 
，若R較小，能使I≥Imin，則光耦導(dǎo)通，當(dāng)保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時，電阻R上的電壓UR=U2，電流 
，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌?，狀態(tài)有變化，測試裝置能正常記錄動作時間。 若 R較大，使得開關(guān)未閉合時電流 
，光耦不通，此種情況無論開關(guān)是否閉合，光耦均不通，測試裝置無法正常記錄保護(hù)動作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣，能否正常測試均取決于 R的大小，一般不建議采用。
除此之外，還有其他接線方法以及純電位高低的測試，其原理和以上列舉的基本類同，不再贅述。
綜上所述，現(xiàn)場試驗時，無論是不帶電位接點還是帶電位接點，接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式，通常不會出現(xiàn)異常。 無法正常記錄時，可以甩開保護(hù)接線，在測試裝置運(yùn)行時用短接線直接對 A和COM短接，若測試裝置能正常記錄動作，則可以排除繼保測試儀的故障。
